株式会社システムロード [ホーム]

製品情報会社案内採用情報ちょっとひといきお問い合わせ

製品情報

  • 膜厚測定
  • LED測定
  • 吸光度測定
  • 製品あゆみ

FF8 非接触膜厚測定システム

FF8 非接触膜厚測定システム

R&D対応・インライン対応

カタログ[PDF]

特長

  1. サンプルの反射率(干渉波形)を測定し、FFT(高速フーリエ変換)等によって膜厚値の解析を行います。
  2. 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行えます。 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・色測定・成分濃度解析も可能です。
  3. 測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能です。
  4. 連続測定機能やトラバース機構、データ通信機能の製作も可能ですので、インラインの膜厚測定としてもご使用頂けます。
    測定範囲(分解能) 0.01μm〜50μm (0.1nm)
    0.5μm〜50μm (0.1nm)
    1μm〜200μm (0.001μm)
    4μm〜800μm (0.001μm)
Copyright(c)  SystemRoad Co.,Ltd. All rights reserved.